продукты

CZT-субстрат

Краткое описание:

Высокая гладкость
2.Высокое соответствие решетки (MCT)
3. Низкая плотность дислокаций
4. Высокий коэффициент пропускания инфракрасного излучения


Информация о продукте

Теги продукта

Описание

Кристалл CdZnTe CZT является лучшей эпитаксиальной подложкой для инфракрасного детектора HgCdTe (MCT) благодаря превосходному качеству кристаллов и точности поверхности.

Характеристики

Кристалл

CZT (Cd0,96Zn0,04Те)

Тип

P

Ориентация

(211), (111)

Удельное сопротивление

>106Ом.см

Инфракрасное пропускание

≥60% (1,5-25 мкм)

(DCRC FWHM)

≤30 рад.с

ЭПД

1х105/см2<111>;5x104/см2<211>

Шероховатость поверхности

Ра≤5 нм

Определение CZT-субстрата

Подложка CZT, также известная как подложка теллурида кадмия-цинка, представляет собой полупроводниковую подложку, изготовленную из сложного полупроводникового материала, называемого теллуридом кадмия-цинка (CdZnTe или CZT).CZT представляет собой прямозонный материал с высоким атомным номером, подходящий для различных применений в области обнаружения рентгеновских и гамма-лучей.

Подложки CZT имеют широкую запрещенную зону и известны своим превосходным энергетическим разрешением, высокой эффективностью обнаружения и способностью работать при комнатной температуре.Эти свойства делают подложки CZT идеальными для производства детекторов радиации, особенно для рентгеновской визуализации, ядерной медицины, национальной безопасности и астрофизики.

В подложках CZT соотношение кадмия (Cd) и цинка (Zn) можно варьировать, что позволяет настраивать свойства материала.Настраивая это соотношение, можно адаптировать ширину запрещенной зоны и состав CZT к конкретным требованиям устройства.Такая композиционная гибкость обеспечивает повышенные характеристики и универсальность для приложений обнаружения радиации.

Для изготовления подложек CZT материалы CZT обычно выращивают с использованием различных методов, включая вертикальный рост по Бриджмену, метод движущегося нагревателя, выращивание по Бриджмену под высоким давлением или методы переноса пара.Процессы после выращивания, такие как отжиг и полировка, обычно выполняются для улучшения качества кристаллов и качества поверхности подложки CZT.

Подложки CZT широко используются при разработке детекторов излучения, таких как датчики на основе CZT для систем рентгеновского и гамма-изображения, спектрометры для анализа материалов и детекторы радиации для целей проверки безопасности.Их высокая эффективность обнаружения и энергетическое разрешение делают их ценными инструментами для неразрушающего контроля, медицинской визуализации и спектроскопии.


  • Предыдущий:
  • Следующий:

  • Напишите здесь свое сообщение и отправьте его нам